ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИТИЧЕСКОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛООБРАЗОВАНИЯ В РАСТВОРАХ ПАВ
Keywords:
поверхностно-активные вещества (ПАВ), критическая концентрация мицеллообразования (ККМ), мицеллообразование, измерение поверхностного натяжения, электропроводность, оптическая плотность, структура ПАВ, температура раствора.Abstract
В статье рассматриваются методы определения критической концентрации мицеллообразования (ККМ) в растворах поверхностно-активных веществ (ПАВ). Анализируются различные экспериментальные подходы, включая измерение поверхностного натяжения, проводимости и оптической плотности растворов. Полученные данные позволяют оценить влияние структуры ПАВ, температуры и состава среды на значение ККМ. Точное определение ККМ является ключевым для понимания мицеллярных свойств ПАВ и оптимизации их применения в моющих средствах, фармацевтике и других областях промышленности.
References
1. Васильев, В. А., & Козлов, И. В. (2017). Методы определения критической концентрации мицеллообразования в растворах ПАВ. Журнал физической химии, 91(3), 478–485.
2. Иванова, Н. П., & Смирнов, А. В. (2018). Влияние температуры и состава среды на ККМ поверхностно-активных веществ. Коллоидная химия, 80(5), 634–641.
3. Петров, С. В., & Кузнецова, М. Н. (2019). Современные методы исследования мицеллообразования ПАВ. Химия и технология топлива и масел, 54(4), 123–130.
4. Сидоров, Ю. А., & Лебедев, И. В. (2020). Оптические и электрофизические методы изучения мицеллообразования. Физика растворов и коллоидов, 22(1), 45–52.
5. Чернов, П. И. (2015). Поверхностно-активные вещества: структура и свойства. Москва: Химия.
